更新時(shi)間：2023-02-08
Antaris II傅立葉變換近(jin)紅外(FT-NIR)光譜儀(yi)系統，該儀(yi)器(qi)具備實驗(yan)室研究(jiu)級近(jin)紅外儀(yi)器(qi)所要求(qiu)的性能(neng)(neng)，能(neng)(neng)夠(gou)適應(ying)工業操作環境(jing)。該儀(yi)器(qi)和技術的成功應(ying)用將為企業成倍提高工作效率、節省大量(liang)日常常規樣品檢(jian)測(ce)成本。
Antaris II傅立葉變換近紅外(FT-NIR)光譜儀系統
賽默飛世爾科技（原熱電公司）分子光譜部在中國具備的售前、服務體系，在中國建立有客戶演示和培訓實驗中心（上海金橋）和規模大的零備件倉庫。Antaris傅立葉近紅外分析儀提供的是一個解決方案，客戶在購買、方法開發和實際應用的每一個環節均能夠得到技術服務和支持。
Antaris II傅立葉變換近紅外(FT-NIR)光譜儀系統
技術參數：
1. 一臺儀器可同時集成透射、反射、漫透射、光纖探頭等檢測模塊，任何狀態的樣品均可以方便得到快速檢測分析
2. 采用Nicolet高光通量高速動態準直電磁式干涉儀
3. 采用CaF2分束器，在近紅外光譜區域內具有更高的能量分布
4. 各個分析模塊均采用對近紅外光靈敏度高的InGaAs檢測器
5. 儀器與電腦間采用標準接口
6. 低使用和維護成本
021-66875565
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