更新時間(jian):2023-02-08
公司經營產(chan)品(pin)覆(fu)蓋電感耦合(he)(he)等離(li)子體光譜(pu)(pu)(pu)(pu)儀(yi)(ICP)、原子吸收光譜(pu)(pu)(pu)(pu)儀(yi)(AAS)、X射線熒(ying)光光譜(pu)(pu)(pu)(pu)儀(yi)(XRF)、離(li)子色譜(pu)(pu)(pu)(pu)儀(yi)(IC)、高效液相色譜(pu)(pu)(pu)(pu)儀(yi)(HPLC)、氣相色譜(pu)(pu)(pu)(pu)儀(yi)(GC)、質譜(pu)(pu)(pu)(pu)儀(yi)(MS)、定氮儀(yi)、滴定儀(yi)、微波消(xiao)解(jie)儀(yi)、純水機、島津總(zong)有機碳分析儀(yi)TOC-VWS/TOC-VWP、前處理設備等儀(yi)器及其配(pei)件。公司一直秉持“專注,追求品(pin)質,科學(xue)發展"的企業精神,以“合(he)(he)作共贏"為理念。
設計的高靈敏度NDIR能實現高靈敏度測量。將阻礙準確分析的試劑空白更小化,提高靈敏度和準確性。通過結合過硫酸鹽,紫外線照射和加熱實現氧化。無需清洗試劑瓶,減少載體氣體消耗。
測量原理
TC測量
將磷酸(suan)與氧化劑(硫酸(suan)銨)添加到樣(yang)品中,在紫外線(xian)照射下加熱,將樣(yang)品中的(de)(de)TC轉換成二(er)氧化碳。二(er)氧化碳與載氣通過除濕機流入NDIR抽樣(yang)單(dan)元。測量二(er)氧化碳峰(feng)值(zhi)信號的(de)(de)范圍,使用預先準(zhun)備好的(de)(de)校準(zhun)曲線(xian)將峰(feng)值(zhi)面(mian)積轉換為TC濃度。
IC測量
使(shi)用磷(lin)酸將(jiang)樣品酸化和(he)吹(chui)掃(sao),將(jiang)樣品中的(de)IC轉換成二(er)氧(yang)化碳。通(tong)過NDIR檢測二(er)氧(yang)化碳,樣品的(de)IC濃度(du)測量方法與TC相同。
TOC測定
從TC濃(nong)(nong)度中減去(qu)IC濃(nong)(nong)度得出TOC的(de)濃(nong)(nong)度。
NPOC測定
使用磷酸將樣品(pin)酸化,旋轉去(qu)除IC。該(gai)NPOC濃度是在去(qu)除IC后通過測量(liang)樣品(pin)中的(de)TC(=npoc)得出的(de),測量(liang)方法與TC相同。
S型號特點(單機型號)
P型(xing)號(hao)特點(電腦控制型(xing)號(hao))